JSM-IT200掃描電子顯微鏡，是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號被探測器收集轉換成電訊號，經視頻放大后輸入到顯像管柵極，調制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來測定樣品微觀形貌結構，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，

JSM-IT500掃描電子顯微鏡，是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號被探測器收集轉換成電訊號，經視頻放大后輸入到顯像管柵極，調制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來測定樣品微觀形貌結構，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、醫療器械，保健品等多種樣品。