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掃描電子顯微鏡
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JCM7000掃描透射電子顯微鏡 ，是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。用來測定樣品微觀形貌結構，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，涉及行業：地質、冶金、材料、農業、石油、化工、制藥、食
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